隨著電(dian)(dian)(dian)(dian)源(yuan)(yuan)技術的(de)發展，電(dian)(dian)(dian)(dian)源(yuan)(yuan)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)是(shi)開(kai)關電(dian)(dian)(dian)(dian)源(yuan)(yuan)的(de)發展趨勢。在電(dian)(dian)(dian)(dian)源(yuan)(yuan)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)設(she)計中，設(she)計是(shi)整體的(de)核心，而測量則是(shi)一(yi)把標尺(chi)。當一(yi)切工(gong)作就緒(xu)之后，并不(bu)意味著結束，電(dian)(dian)(dian)(dian)源(yuan)(yuan)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)性能的(de)優(you)劣是(shi)值(zhi)得的(de)問題。

作(zuo)為電(dian)源(yuan)(yuan)(yuan)模(mo)塊(kuai)(kuai)已(yi)成為現(xian)代科學技術中動力源(yuan)(yuan)(yuan)關鍵(jian)的(de)(de)組件(jian)之一(yi)，其可(ke)靠(kao)性在(zai)很大程(cheng)度上影響著設(she)(she)備的(de)(de)可(ke)靠(kao)性。因(yin)此，電(dian)源(yuan)(yuan)(yuan)的(de)(de)可(ke)靠(kao)性成為確保所有參數和性能的(de)(de)前提。其可(ke)靠(kao)性主(zhu)要受設(she)(she)計思(si)想(xiang)，產品技術，測(ce)試(shi)方法，材(cai)料和使用不(bu)當的(de)(de)影響。那么你知道可(ke)靠(kao)性測(ce)試(shi)設(she)(she)備測(ce)試(shi)電(dian)源(yuan)(yuan)(yuan)模(mo)塊(kuai)(kuai)時需要做哪些試(shi)驗嗎？下面(mian)一(yi)起來和沃華慧通(tong)來看(kan)看(kan)吧。

生(sheng)產(chan)過程(cheng)(cheng)是指在生(sheng)產(chan)和存(cun)儲(chu)過程(cheng)(cheng)中不(bu)影響產(chan)品(pin)質量的過程(cheng)(cheng)。例如(ru)，在生(sheng)產(chan)過程(cheng)(cheng)中不(bu)注意靜電(dian)防(fang)(fang)護可(ke)能會導致組(zu)件(jian)損(sun)壞率增加，從(cong)而(er)影響電(dian)源(yuan)的使用(yong)壽命和可(ke)靠(kao)性。儲(chu)存(cun)應防(fang)(fang)潮，耐(nai)高(gao)(gao)溫，防(fang)(fang)靜電(dian)等。設計(ji)思想，產(chan)品(pin)技術，測試方法(fa)和材料都由(you)電(dian)源(yuan)模塊的制造商控(kong)制，而(er)如(ru)何使用(yong)它們則由(you)客戶控(kong)制。在設計(ji)和開發產(chan)品(pin)時，工程(cheng)(cheng)師應從(cong)制造商入手，并盡(jin)可(ke)能優化所有(you)指標，以確保產(chan)品(pin)的高(gao)(gao)可(ke)靠(kao)性。

可(ke)靠(kao)性測試(shi)(shi)設備測試(shi)(shi)電(dian)(dian)源(yuan)模塊時的(de)(de)測試(shi)(shi)方法可(ke)以在(zai)電(dian)(dian)源(yuan)出(chu)現故障之前對系統進(jin)行檢測，以免在(zai)使用過程(cheng)中造(zao)成影響。因為(wei)電(dian)(dian)源(yuan)是集成電(dian)(dian)路，所以材(cai)料(liao)(liao)的(de)(de)質量(liang)已(yi)成為(wei)問題，好的(de)(de)材(cai)料(liao)(liao)自(zi)然(ran)會達到好的(de)(de)質量(liang)。用戶通常取決于環境和溫度(du)對產品(pin)的(de)(de)影響，并且產品(pin)的(de)(de)溫度(du)范圍(wei)主(zhu)要由制造(zao)商控制。

產品(pin)的可靠(kao)性測試包括(kuo)：

一、短路(lu)測(ce)試。

空(kong)載(zai)短(duan)(duan)路(lu)(lu)(lu)測試(shi)(shi)（從空(kong)載(zai)到(dao)短(duan)(duan)路(lu)(lu)(lu)的(de)電源重復測試(shi)(shi)），滿負載(zai)短(duan)(duan)路(lu)(lu)(lu)測試(shi)(shi)（從空(kong)載(zai)到(dao)短(duan)(duan)路(lu)(lu)(lu)的(de)電源連續測試(shi)(shi)），短(duan)(duan)路(lu)(lu)(lu)啟(qi)動（重復）從空(kong)載(zai)到(dao)短(duan)(duan)路(lu)(lu)(lu)的(de)功率測試(shi)(shi)）。

二、啟(qi)動性能測試。

輸(shu)入市電，高輸(shu)入電壓(ya)點，低輸(shu)入電壓(ya)點，電源模塊的Z大負載，并在斷開連(lian)接后15秒(miao)鐘內繼續工作5秒(miao)鐘。

三、輸入瞬態高壓測試。

輸入電壓(ya)，用示波器記(ji)錄高壓(ya)循環的(de)次數，滿(man)負荷運行電源，并在疊(die)加電壓(ya)跳變的(de)情況下(xia)連續運行。

四、輸(shu)入功率不穩(wen)定時的(de)輸(shu)出動態負載測試。

調(diao)整輸(shu)入電(dian)壓至不穩定跳(tiao)變，并(bing)將輸(shu)出電(dian)壓調(diao)整至Z大負(fu)載和(he)空(kong)載跳(tiao)變，并(bing)連續(xu)運行。

五、功率波形測試。

模擬電壓輸入，例如尖峰、毛刺和諧波、測試電源性能和參數，并檢查組件的問題和答案。         //www.sundiao229.cn/