頂針探針荷重行程阻抗試驗機為測試頂針探針量身定制，頂針和探針力值、行程、接觸電阻為三個主要測試指標。我司此款機器可以同時測試頂針的荷重-位移-電阻曲線，同時也可以測試頂針的壽命測試。通過電腦設定儲存數據，是一款很好的頂針探針試驗機器。在測試頭與底部測試夾具都需要精細處理，以便能保證測試細小的接觸電阻。
針探針以測試電子設備的一些性能指標。所以對頂針探針的一些測試指標就有所要求。
頂針探針是通過自身的彈性接觸面以及力度來保證與電子產品的有效接觸。彈力太小或太大、接觸電阻太大、行程不符合要求都會對測試產生影響。所以就需要對此些數據進行檢測，甚至于進行全檢。探針目前大致分類情況如下，探針根據電子測試用途可分為：
A、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內大部分的探針產品均可替代進口產品；
B、在線測試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測探針；產品的核心技術還是掌握在國外公司手中，國內部分探針產品已研發成功，可替代進口探針產品；
C、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針，核心技術還是掌握在國外公司手中，國內生產廠商積極參與研發，但只有一小部分成功生產。
綜上述，小小的探針但技術要求是挺高的。目前我司與國內諸多客戶有合作，交付探針荷重阻抗行程試驗機。可以測試探針的荷重-行程-電阻數據。同時還可以做壽命測試。有需要可以LX我們。此種機器在硬件上面還是有諸多要求，因為接觸電阻小，我們需要盡可能減少治具產生的阻抗誤差。
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